分析サービス ～Analysis Service～
お客様からのご依頼に応じて、低価格での分析を提供します。分析結果については、専門社員による詳細なご報告をさせていただきます。 研究開発サポートとの併用により、分析結果から展開しうる新たな提案をさせていただきます。
お問合せはこちらよりお願い致します。
【主な分析項目】
▼表面観察：走査型電子顕微鏡（SEM）
成膜後の膜質や劣化状況の確認など、表面状態の観察にお役立てください。
【日本電子（株）製：JSM-6330F】
＊価格（例）
１試料１測定：\8,460.-
測定点追加：\4,360.-
▼表面分析：電子線マイクロアナライザー（EPMA）
サンプル表面に含まれる不純物の同定などにご利用いただけます。
【（株）島津製作所製：EPMA1610】
＊価格（例）
１試料１測定：\13,560.-
測定点追加：\7,260.-
写真1枚：\5,660.-
線分析・マッピング：\36,600.- （3元素以内）
【（株）島津製作所製：EPMA1610】
＊価格（例）
１試料１測定：\13,560.-
測定点追加：\7,260.-
写真1枚：\5,660.-
線分析・マッピング：\36,600.- （3元素以内）
▼表面構造解析：Ｘ解回折装置（XRD）
試料の物質同定や結晶性（面）の確認、粒径測定などにご活用できます。
【日本電子（株）製：JED-2140XS】
＊価格（例）
１試料１測定：\17,560.-
【日本電子（株）製：JED-2140XS】
＊価格（例）
１試料１測定：\17,560.-
▼定量元素分析：X線光電子分光分析装置（XPS）
試料表面や深さ方向における元素の定量分析が可能です。不純物同定などにご利用ください。
【アルバック・ファイ（株）製：APEX】
＊価格（例）
１試料１測定：\36,500.- （ワイドスキャン）
深さ方向分析：\43,600.- （3元素以内）
【アルバック・ファイ（株）製：APEX】
＊価格（例）
１試料１測定：\36,500.- （ワイドスキャン）
深さ方向分析：\43,600.- （3元素以内）
▼膜厚測定：触針式表面形状測定器（デックタック）
薄膜試料表面の粗さ・段差を測定できます。簡易膜厚測定としても利用できます。
【SLOANA製：DEKTAK 3ST】
＊価格（例）
１試料１測定：\8,660.-
*前処理等、必要な場合はご相談ください。
*上記分析項目以外についてもお気軽にお問い合わせください。
